美国MTI蓝宝石测厚仪薄膜测厚仪

高精度电容位移传感器用于蓝宝石测厚，蓝宝石测厚仪，蓝宝石厚度测量，非金属材料测厚，薄膜测厚，薄膜测厚仪等等，详情请参考附件文档资料。

大多数绝缘材料的非接触测厚

使用MTI电容放大器和电容探针实现薄的非导电材料（如玻璃、蓝宝石、塑料和其他聚合物）的厚度测量。

电容传感器以其测量导电目标厚度和位置的能力而***。

然而，电容传感器还可以测量非导电材料（如蓝宝石、玻璃、泡沫、许多塑料，甚至半绝缘半导体材料（如***和氮化硅）的厚度却鲜为人知。

用老式的模拟电容探头和放大器测量厚度是可能的，但在处理未校准的模拟信号时是困难的。

现在有更好的办法了。

MTI的数字Accumeasure系统的内置测量和计算能力可以在执行简单的校准程序后测量和数字计算非导电目标的厚度。Accumeasure放大器和计算机对目标材料的介电常数和总间隙进行补偿。

MTI的电容探头发出一个电场，电场穿过绝缘材料，绝缘材料的介电常数改变了电场。为了使电容系统测量厚度，它必须通过对被测材料进行校准来考虑不同的介电常数。只要材料的介电常数不变，校准将保持一致，甚至可以测量非导电板或移动的非导电目标，以进行过程控制。

为获得更好的效果，地面目标区域应为圆形，直径应与探头相同。与探头直径大致相同的方形接地回路也适用。一个相当于探针大小许多倍的大接地板也会使精度略有下降。在进行厚度测量时，透明塑料或玻璃材料的非接触测量很难或不可能用激光三角测量传感器进行测量。数字Accumeasure是进行这些厚度测量的合适方法，因为在大多数情况下，透明玻璃和塑料不能提供足够的反射，使激光三角测量传感器在漫反射模式下工作。大部分的激光能量直接穿过清晰的目标。如果使用镜面反射激光头，可以获得位移读数，但很多时候这是不可取的，因为激光光斑会根据距离改变位置。

此外，如果与外部厚度传感器结合使用，MTI的数字Accumeasure可用于计算/监测非导电材料的密度。如果您有相关需求，请联系我们